基本信息
| 标准名称： | 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
| 英文名称： | Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法 |
| 替代情况： | 被GB/T 1555-1997代替 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1989-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1998-08-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法